PXI 벡터 네트워크 분석기로 반도체 및 모바일 디바이스 제조업체의 테스트 비용 절감

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NI

 

PXI 벡터 네트워크 분석기로 반도체 및

 

모바일 디바이스 제조업체의 테스트 비용 절감

 

 

 

 

 

 

 

 

내쇼날인스트루먼트는 계속해서 복잡해지고 있는 RF 테스트 요구사항을 기존 박스형 계측 솔루션의 비용, 크기 및 개발 시간 일부만으로 해결할 수 있도록 최적화된 NI PXIe-5632 VNA를 출시한다고 발표했다. 이 새로운 PXIe VNA는 주파수 범위가 300 kHz ~ 8.5 GHz에 이르는 혁신적인 듀얼 소스 아키텍처에 구축되었고, 독립적으로 소스 조정이 가능하며, 소스 액세스 루프를 통해 다양한 세트의 측정 어플리케이션을 처리할 수 있다.

 

내쇼날인스트루먼트 RF 연구 및 개발 부사장인 Jin Bains는 “NI는 RF 및 마이크로웨이브 계측기에 공격적인 투자를 지속하여 PXI를 하이엔드 어플리케이션에 적용하고 있습니다. NI PXIe-5632 VNA에 탑재된 다양한 기능은 네트워크 측정 비용을 획기적으로 줄여주며, 아주 정확한 측정, 빠른 측정 속도 및 작은 크기가 필요한 대량의 자동화 테스트 어플리케이션에서 특히나 뛰어난 성능을 발휘합니다”라고 말했다.

 

 

 

제품 특징
ㆍ 2개 포트, 3-슬롯 PXI Express VNA (300 kHz ~ 8.5 GHz 주파수 범위)
ㆍ 0.01 dB 스텝에서 설정 가능한 -30 dBm ~ 15 dBm의 넓은 전력 범위로 응압 및 활성 디바이스의 s-파라미터 측정
ㆍ 펄스 s-파라미터 측정을 위한 소스 액세스 루프와 확장된 소스 전력 범위를 갖춘 듀얼 소스 아키텍처
ㆍ 독립적으로 조정된 소스를 이용한 주파수 오프셋 기능을 통해 주파수 변환 디바이스와 핫 S-파라미터 측정
ㆍ NI LabVIEW, ANSI C 및 .NET용 프로그래밍 가능한 인터페이스로 간단한 프로그래밍과 빠른 테스트 개발 시간 및 RF 측정 품질 유지