NI, PXI 디지타이저와 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit

NI
PXI 디지타이저와 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit으로 기존 오실로스코프 어플리케이션의 유연성과 성능 개선

 

내쇼날인스트루먼트는 NI PXIe-5162 디지타이저와 업데이트된 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit을 출시한다고 발표했다. 디지타이저는 10 비트의 수직 분해능과 5 GS/s 샘플 속도를 갖추고 있으며, 기존 8-비트 오실로스코프의 수직 분해능보다 4배 높은 고속 측정을 제공한다. PXIe-5162는 한 슬롯에 1.5 GHz의 대역폭과 4개 채널을 제공하므로 제조 테스트, 연구 및 디바이스 특성화용 다채널 디지타이저 시스템에 적합하다. 엔지니어들은 디지타이저와 함께 LabVIEW 및 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit (높은 전송률의 지터, 아이 다이어그램 및 자동화 검증 및 생산 테스트 환경이 요구하는 위상 노이즈 측정을 수행하는데 최적화된 함수 라이브러리 제공)을 이용할 수 있다.
NI 모듈형 계측기 R&D 담당자인 Steve Warntjes는 “NI PXIe-5162 디지타이저는 고속의 다채널과 고분해능 측정을 제공하기 때문에 기존 박스형 오실로스코프를 이용한 자동화 테스트 이상의 가치를 제공한다. 고속 디지타이저와 함께 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit을 이용하면 박스형 오실로스코프에 탑재된 구형 임베디드 프로세서가 아닌 현대식 PC의 처리력을 이용하여 측정 시스템의 속도를 가속화할 수 있습니다.”라고 전했다.

NI PXIe-5162 특징
· 신호를 보다 세밀히 확인할 수 있는 10 비트 수직 분해능
· 단일 3U PXI Express 슬롯의 4개 채널 (단일 PXI 섀시에 68개 채널로 확장)
· 한 채널에 5 GS/s 최대 샘플 속도 또는 4개 채널 동시 1.25 GS/s

LabVIEW Jitter Analysis Toolkit 특징
· 클럭 복구, 아이 다이어그램, 지터, 레벨 및 타이밍 측정용 내장 함수
· 아이 다이어그램과 마스크 테스트용 예제 프로그램, dual-Dirac 및 스펙트럼 기반 분리 방식을 이용한 RJ/DJ 분리

※ 출처 : EngNews (산업포탈 여기에) - NI, PXI 디지타이저와 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit